在半导体、光学薄膜、新材料研发等高精度制造领域，材料的厚度往往决定着产物的性能与命运。当测量精度进入微米乃至纳米级别，您是否仍在为数据的准确性、操作的稳定性以及设备的可靠性而困扰？
富士工机HKT-Master 0.01AA超薄膜测厚仪，一款专为挑战极限精度而打造的专业仪器，旨在为您提供无可挑剔的测量解决方案，成为您品质控制与前沿研发中值得信赖的伙伴。
我们深知，在超薄膜测量中，每一个微小的数字都举足轻重。HKT-Master 0.01AA集成了富士工机的工艺与创新技术，为您带来以下核心优势：
? 精度，洞察入微
0.01μ尘（10纳米）的超高分辨率，让超薄膜材料的微小厚度变化无处遁形。无论是监测静电卡盘的细微磨损，还是测量关键的光学镀膜，它都能提供足以让您信赖的精准数据。
?? 恒定压力，稳定如一
摒弃传统测厚仪因人为施力不均带来的误差。HKT-Master 0.01AA采用恒定的0.14N测量压力与测量头向下恒定设计，确保每一次测量都在相同的条件下进行，数据重复性高，不同操作者也能获得一致结果。
? 匠心选材，经久耐用
核心测头采用搁30碳化物（碳化钨）球形测头，这种超硬耐磨材料能有效抵抗长期使用带来的磨损，极大延长了设备寿命，并保证了长期测量精度不衰减，为您节省长期成本。
? 人性设计，高效便捷
融合人体工学设计，长时间操作也不易疲劳。支持数据导出功能，便于您进行质量追溯、统计分析及报告生成，无缝对接您的质量管理体系。
HKT-Master 0.01AA不仅是测量工具，更是推动产业升级的关键力量。
半导体行业：精准测量静电卡盘（贰厂颁）磨损厚度，实现预测性维护，避免非计划停机，保障晶圆生产的连续性与稳定性。
光学与电子行业：用于各类光学镜头、滤光片、显示屏及触摸屏等功能性薄膜的厚度质量控制。
材料科研：为新材料的研发提供精准、可靠的超薄膜厚度数据支撑，加速研发进程。
富士工机HKT-Master 0.01AA以其性能，已经成为半导体设备维护、超薄材料研发及任何对厚度测量有严苛要求场景下的设备。它代表的不仅是一台仪器，更是一种对品质追求的态度。
如果您的测量需求在0.1μm级别，且更看重便携性与无线操作，不妨也了解一下我们同系列的HKT-Lite 0.1型号，它或许是您更具性价比的优质之选。
